欢迎访问北京华测试验仪器有限公司网站

返回首页|联系我们

全国统一服务热线:

13911821020
产品中心您当前的位置:首页 > 产品中心 > > 半导体封装材料测试系统 > HTDM-10半导体封装材料多通道介电测试系统
基础信息Product information
产品名称:

半导体封装材料多通道介电测试系统

产品型号:HTDM-10

厂商性质:生产厂家

所在地:北京市

更新日期:2024-09-14

产品简介:

半导体封装材料多通道介电测试系统,主要用于:多通道电阻、介电测试等可搭载阻抗分析仪、高阻计使用光耦继电器,高速又耐用、切换时间 1 ms、高速I/O 输出控制。

产品特性Product characteristics
品牌华测

多通道介电测试系统

型号:HTDM-10

多通道介电测试系统主要用于:多通道电阻、介电测试等可搭载阻抗分析仪、高阻计使用光耦继电器,高速又耐用、切换时间 1 ms高速I/O 输出控制。

基于 IM3570 ZC3001 组合的 10 通道交流阻抗测试系统 

(发挥宽频带、通道间误差少的优点,与 LCR 多路测试软件 CN040 组合,可用于多通道介电与电阻测量,也可适用于电子零件和传感器的研究开发。)

PC 软件

LCR 多路测试软件

扫描、比较器

针对所有通道设置测试条件(量程、频率、比较器等)可某个通道的 ON OFF

可循环进行扫描测试

同时可在本地保存测试条件

OPEN&SHORT 补偿

可对应各通道的开短路补偿

如若利用 LCR 的设置切换功能则需要较长的切换时间,在软件内进行了开短路补偿计算,可维持高速的扫描时间

数据保存

扫描的数据可根据通道进行保存


半导体封装材料多通道介电测试系统



半导体封装材料多通道介电测试系统

半导体封装材料多通道介电测试系统

半导体封装材料多通道介电测试系统

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

上一篇:HTDM-10华测多通道介电/电阻测试系统

下一篇:定制半导体封装材料真空探针台

在线客服 联系方式 二维码

服务热线

010-86460119

扫一扫,关注我们

Baidu
map