定制双面探针台/I-V测试/晶圆和PCB板测试

产品型号：Huace-8D

厂商性质：生产厂家

所在地：北京市

更新日期：2024-10-10

产品简介：

定制双面探针台/I-V测试/晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。

产品特性Product characteristics

品牌	华测

双面探针台

双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer ， LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。

技术参数型号		Huace-8D双面探针台
台体	chuck尺寸	8英寸
	水平旋转	卡盘可以360度旋转，细调精度不大于0.1度，带有锁定旋钮
	XY移动行程	*8英寸8英寸**
	XY移动精度	10um/1um可选
	样品固定	样品夹定，尺寸可调；真空吸附固定，卡盘多圈吸附环可独立控制
	双面点针平台	气动升降平台升起为双平台，落下可做单平台使用
	平台针座数量	单平台最多放置8个CB-200针座
	卡盘结构	普通/高温/带背电极等结构卡可选择
温控系统	温度范围	室温~300℃ (400℃,500℃可选）
	温控精度	0.1℃
	温控稳定性	±1℃
	温控传感器	100Ω 铂电阻传感器
正面光学系统	CCD	200W/500W/1200W像素可选（正反面）
	显微镜类型	单筒/体视/金相显微镜可选
	放大倍率	16X-100X/20X-2000X
	显微镜调节	*水平方向绕立柱旋转X-Y移动22英寸，Z轴行程50.8mm**
	光源	外置LED环形光源/同轴光源
背面光学系统	显微镜类型	L型单筒显微镜
	连续变倍比	6.3:1
	放大倍率范围	0.75–5X
	放大倍率	*315X（计算公式：变焦CCD显示器）*
	显微镜调节	万向移动
	光源	同轴光源